Guia de conceção e esquematização de PCB de alta frequência

Guia de conceção e esquematização de PCB de alta frequência

A placa PCB de alta frequência refere-se à frequência electromagnética das placas de circuito especiais mais elevadas para alta frequência (frequência superior a 300MHZ ou comprimento de onda inferior a 1 metro) e micro-ondas (frequência superior a 3GHZ ou comprimento de onda inferior a 0,1 metros) no domínio da PCB, está no substrato de micro-ondas placas laminadas revestidas a cobre na utilização de placas de circuito rígido comuns fabricadas utilizando alguns dos processos ou a utilização de métodos de tratamento especiais e a produção de placas de circuito.

PCB de alta frequência

Índice

PCB de alta frequência especificações de conceção do esquema e da cablagem

1. princípios de isolamento e ligação à terra

  • Áreas de circuitos digitais e analógicos estritamente separadas
  • Certifique-se de que todos os alinhamentos de RF têm uma referência completa de plano de terra.
  • Dar prioridade ao alinhamento da camada de superfície para a transmissão do sinal RF

2.Cablagem Ordem de prioridade

Linhas de RF → linhas de interface RF de banda base (linhas IQ) → linhas de sinal de relógio → linhas de alimentação → circuitos digitais de banda base → rede de terra

3. especificação do tratamento de superfície

  • Recomenda-se a utilização de uma placa única de alta frequência (>1GHz) para eliminar a cobertura de óleo verde na área da linha de microfita.
  • Recomenda-se que a linha de microfita de placa única de baixa e média frequência mantenha a camada protetora de óleo verde

4.Especificação da cablagem cruzada

  • Proibir estritamente a ligação cruzada de sinais digitais/analógicos.
  • As linhas de radiofrequência e as linhas de sinalização devem ser respeitadas aquando do cruzamento:
    a) Opção preferida: adicionar uma camada de placa de terra isolada
    b) Segunda escolha: Manter os cruzamentos ortogonais de 90°.
  • Requisitos de espaçamento entre linhas RF paralelas:
    a) Cablagem normal: Manter o espaçamento de 3W.
    b) Quando o paralelismo for necessário, inserir um plano de terra isolado e bem aterrado no centro.

5. processamento de sinais mistos

  • São necessários duplexadores/misturadores e outros dispositivos multi-sinais:
    a) Os sinais RF/IF são encaminhados ortogonalmente.
    b) Barreira de terra isolada entre sinais

6. requisitos de integridade do alinhamento

  • As extremidades salientes do alinhamento RF são estritamente proibidas.
  • Manter a coerência da impedância caraterística da linha de transmissão

7.Vias Especificações de manuseamento

  • Evitar, tanto quanto possível, mudar as camadas de alinhamento RF.
  • Quando é necessária uma mudança de camada:
    a) Utilizar o tamanho de furo mais pequeno (recomendado 0,2 mm)
    b) Limitar o número de vias (≤ 2 por linha)

8. cablagem da interface de banda base

  • Largura da linha IQ ≥ 10 mil
  • Correspondência rigorosa de comprimentos iguais (ΔL ≤ 5 mil)
  • Manter um espaçamento uniforme (tolerância de ±10%)

9.Cablagem da linha de controlo

  • Comprimento da rota optimizado para a impedância de terminação
  • Minimizar a proximidade do caminho de RF
  • Proibir a colocação de vias de terra junto a fios de controlo

10. proteção contra interferências

  • Espaçamento de 3H entre os alinhamentos digitais/de alimentação e os circuitos de RF (H é a espessura do dielétrico)
  • Área de blindagem separada para circuitos de relógio

11.Cablagem do relógio

  • Cablagem do relógio ≥ 10 mils
  • Blindagem aterrada de dupla face
  • É preferível uma estrutura de fio de fita

12.Cablagem do VCO

  • Linhas de controlo ≥2mm das linhas de RF
  • Se necessário, aplicar um tratamento completo de revestimento do solo

13. conceção multicamadas

  • Preferir um esquema de isolamento entre camadas
  • A segunda escolha da solução de cruzamento ortogonal
  • Limite do comprimento paralelo (≤λ/10)

14. sistema de ligação à terra

  • Completude do plano de terra de cada camada >80
  • Espaçamento do orifício de ligação à terra <λ/20
  • Ligação à terra multiponto em áreas críticas

Nota: Todas as especificações dimensionais devem ser ajustadas de acordo com o comprimento de onda (λ) da frequência de funcionamento real, e recomenda-se a realização de uma simulação tridimensional do campo eletromagnético para verificar o design final.

PCB de alta frequência

Especificações técnicas dos principais parâmetros de desempenho da placa de circuito impresso de alta velocidade e alta frequência

1. parâmetros caraterísticos dieléctricos

1.1 Constante dieléctrica (Dk)

  • Requisito típico: 2,2-3,8 (@1GHz)
  • Indicador-chave:
  • Estabilidade numérica (tolerância de ±0,05)
  • Dependência da frequência (<5% variação de 1-40 GHz)
  • Isotropia (variação dos eixos X/Y/Z <2%)

1.2Perda dieléctrica (Df)

  • Gama padrão: 0,001-0,005 (@10GHz)
  • Requisitos essenciais:
  • Caraterísticas de baixas perdas (de preferência Df <0,003)
  • Estabilidade de temperatura (-55℃~125℃ variação <15%)
  • Impacto da rugosidade da superfície (Ra <1μm)

2. propriedades termo-mecânicas

2.1 Coeficiente de expansão térmica (CTE)

  • Requisitos de correspondência da folha de cobre:
  • CTE do eixo X/Y: 12-16ppm/°C
  • CTE do eixo Z: 25- 50 ppm/°C
  • Norma de fiabilidade:
  • 300 ciclos térmicos (-55℃~125℃) sem delaminação

2.2 Índice de resistência ao calor

  • Ponto Tg: ≥170℃ (de preferência 180-220℃)
  • Ponto Td: ≥300 ℃ (temperatura de perda de peso 5%)
  • Tempo de delaminação: >60min (teste de solda de 288℃)

3. estabilidade ambiental

3.1 Caraterísticas de absorção de humidade

  • Absorção de água saturada: <0,2% (24h de imersão)
  • Desvio do parâmetro dielétrico:
  • Dk change <2%
  • Alteração Df <10%

3.2 Resistência química

  • Resistência a ácidos e álcalis: Solução de concentração 5% imersa 24h sem corrosão
  • Resistência a solventes: Aprovado no teste IPC-TM-650 2.3.30.

4. desempenho elétrico

4.1 Controlo da impedância

  • Linha de extremidade única: 50Ω±10%.
  • Pares diferenciais: 100Ω±7%
  • Pontos-chave de controlo:
  • Tolerância da largura da linha ±5%
  • Tolerância da espessura dieléctrica ±8%
  • Tolerância da espessura do cobre ±10

4.2 Integridade do sinal

  • Perda de inserção: <0,5dB/polegada@10GHz
  • Perda de retorno: >20dB@Banda de operação
  • Rejeição de diafonia: <-50dB@1mm de espaçamento

5.Fiabilidade mecânica

5.1 Resistência da casca

  • Valor inicial: >1,0N/mm
  • Após o envelhecimento térmico: >0.8N/mm (125℃/1000h)

5.2 Resistência ao impacto

  • Resistência CAF: >1000h (85℃/85%RH/50V)
  • Choque mecânico: passa no teste 30G/0,5ms

6.Requisitos especiais de desempenho

6.1 Estabilidade de alta frequência

  • Consistência de fase: ±1°@10GHz/100mm
  • Atraso de grupo: <5ps/cm@40GHz

6.2 Acabamento da superfície

  • Rugosidade da folha de cobre: Rz<3μm
  • Efeito da máscara de solda: Variação Dk <1%

Notas:

  1. Todos os parâmetros devem ser testados de acordo com os métodos normalizados IPC-TM-650.
  2. A amostragem por lotes é recomendada para parâmetros-chave.
  3. As aplicações de alta frequência devem fornecer Dk/Df com uma curva de variação de frequência.
  4. As placas multicamadas devem ser avaliadas quanto à coerência dos parâmetros do eixo Z.

Livro Branco Técnico sobre Ensaios de Dk/Df de Materiais de PCB de Alta Frequência

1. Princípios de classificação e seleção dos métodos de ensaio

1.1 Sistema de métodos de ensaio

  • Métodos padrão IPC: 12 protocolos de testes normalizados
  • Métodos personalizados do sector: Soluções exclusivas de instituições de investigação e fabricantes
  • Critérios de seleção práticos:
    - Correspondência de frequências (±20% da banda de funcionamento)
    - Consistência da direção do campo elétrico (eixo Z/plano XY)
    - Correlação com os processos de fabrico (matéria-prima/painel acabado)

1.2 Matriz de seleção de métodos

Requisitos de ensaioMétodo recomendadoCenário de aplicação
Avaliação das matérias-primasMétodo baseado em dispositivosInspeção de entrada
Validação do quadro acabadoMétodo de ensaio do circuitoVerificação do projeto
Análise de anisotropiaAbordagem de ensaio combinadaInvestigação de materiais de alta frequência

2. Explicação pormenorizada das principais técnicas de ensaio

2.1 Método do ressonador de stripline com pinça para banda X (IPC-TM-650 2.5.5.50)

  • Estrutura de teste:
    ┌─────────────────┐
    │ Plano de terra │
    ├─────────────────┤
    │ DUT (eixo Z) │
    ├─────────────────┤
    │ Circuito do ressoador│
    ├─────────────────┤
    │ DUT (eixo Z) │
    ├─────────────────┤
    │ Plano de terra │
    └─────────────────┘
  • Caraterísticas técnicas:
    - Gama de frequências: 2,5-12,5 GHz (incrementos de 2,5 GHz)
    - Precisão: ±0,02 (Dk), ±0,0005 (Df)
    - Fontes de erro: Folgas de ar do aparelho (desvio de ~1-3%)

2.2 Método do Ressonador de Cilindro Dividido (IPC-TM-650 2.5.5.13)

  • Parâmetros-chave:
    - Direção de ensaio: Propriedades do plano XY
    - Picos de ressonância: 3-5 pontos de frequência caraterísticos
    - Análise de anisotropia: Pode comparar com dados do eixo Z

2.3 Método do ressonador de anel microstrip

  • Requisitos do circuito:
    - Impedância da linha de alimentação: 50Ω ±1%
    - Abertura do anel: 0,1-0,15 mm (requer controlo litográfico)
    - Tolerância da espessura do cobre: ±5 μm compensação necessária

3. Análise e compensação de erros de ensaio

3.1 Principais fontes de erro

  • Dispersão de materiais: Dk dependente da frequência (típico: -0,5%/GHz)
  • Impacto da rugosidade do cobre: Nível de rugosidade Dk Desvio Rz < 1 μm 5 μm >8%
  • Variações do processo:
    - Espessura do cobre revestido (erro de 0,3% por desvio de 10 μm)
    - Influência da máscara de soldadura (variação de 0,5-1,2% devido à cobertura de óleo verde)

3.2 Métodos de correção de dados

  • Algoritmo de compensação de frequência:
    Dk(f)=Dko⋅(1-α⋅log(f/fo))
  • Correção da rugosidade da superfície: Modelo de Hammerstad-Jensen
  • Manuseamento de materiais anisotrópicos: Método de análise tensorial

4. Diretrizes de aplicação de engenharia

4.1 Processo de desenvolvimento do plano de teste

  1. Determinar a banda de frequência de funcionamento (frequência central ±30%)
  2. Analisar a direção do campo elétrico primário (microstrip/stripline)
  3. Avaliar a janela do processo de fabrico (espessura do cobre/tolerância da largura da linha)
  4. Selecionar um método de ensaio com uma precisão de correspondência >80%

4.2 Normas de comparação de dados

  • Condições de comparação válidas:
    - Mesma direção de ensaio (eixo Z ou plano XY)
    - Desvio de frequência < ±5%
    - Condições de temperatura consistentes (23±2°C)
  • Variações típicas dos parâmetros do material: Método de ensaio Variação Dk Variação Df Fixação vs. Circuito 2-8% 15-30% Eixo Z vs. Plano XY 1-15% 5-20%

5. Evolução das normas de ensaio

5.1 Tecnologias de ensaio emergentes

  • Espectroscopia terahertz no domínio do tempo (0,1-4 THz)
  • Microscopia de micro-ondas de varrimento de campo próximo (10-100 GHz)
  • Sistemas de extração de parâmetros assistidos por IA

5.2 Tendências de normalização

  • Métodos de ensaio de placas multicamadas (projeto IPC-2023)
  • Protocolos de ensaio específicos para 5G mmWave (28/39 GHz)
  • Normas de ensaio de ciclos térmicos dinâmicos

Nota: Todos os ensaios devem ser efectuados num ambiente controlado (23±1°C, 50±5% RH). Sistemas de ensaio automatizados que integram analisadores de rede vectoriais (VNA) e as estações de sonda são recomendadas. Os dados de ensaio devem incluir 3σ análise estatística.

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