Soluzioni ad altissimo numero di strati, con impedenza di precisione e termiche avanzate per schede di carico ATE, schede di burn-in e interfacce per schede sonda.
Forniamo l'estrema precisione e le prestazioni dei materiali richieste per i test di circuiti integrati complessi, dove l'integrità del segnale e l'affidabilità termica sono irrinunciabili. circuiti integrati complessi, dove l'integrità del segnale e l'affidabilità termica non sono negoziabili.
Produzione esperta di schede ad alto numero di strati (fino a oltre 50 strati) con complesse architetture di microvia cieche, interrate e impilate.
Test TDR avanzati che garantiscono tolleranze di impedenza ristrette (±5% fino a ±2% su richiesta) per percorsi di segnale ad altissima velocità.
Lavorare con substrati specializzati (Rogers, Megtron 6/7, Tachyon 100G) per gestire la dissipazione di alta potenza in ambienti di burn-in.
Capacità di posizionamento SMT per componenti BGA e CSP con passo da 0,3 mm e 0,4 mm, essenziale per le interfacce dei semiconduttori ad alto numero di pin.
Fresatura interna di precisione per eliminare gli stub di segnale e ridurre al minimo la riflessione nelle applicazioni ATE ad alta frequenza.
Transizione perfetta dalle schede di valutazione personalizzate (EVB) alla produzione di massa di schede burn-in (BIB) e di schede di carico.
I nostri specialisti di ingegneria dei semiconduttori collaborano con i team di progettazione e collaudo dei circuiti integrati per ottimizzare l'interfaccia critica tra il chip e le apparecchiature di collaudo automatizzate (ATE), massimizzando l'integrità del segnale e la resa. l'apparecchiatura di test automatizzata (ATE), massimizzando l'integrità del segnale e la resa.
Instradamento e isolamento strategici dei segnali per proteggere dal cross-talk e dal degrado del collegamento dati.
Scelta di materiali ibridi (ad esempio FR4 + Rogers ad alta velocità) per bilanciare costi e prestazioni a bassissima perdita.
Analisi avanzata della dissipazione del calore per chip AI e server ad alta potenza in condizioni di test.
Rigorose revisioni di progettazione che assicurano la producibilità delle architetture di schede più dense del settore.
TopfastPCB fornisce l'hardware con specifiche estreme necessario per il ciclo di vita dei semiconduttori, dalla valutazione iniziale del silicio al burn-in massivo e ai test a livello di sistema.
Schede multistrato a impedenza di precisione che collegano i campioni di circuiti integrati alle apparecchiature di test automatizzate ad alta velocità.
Schede affidabili e ad alta temperatura progettate per screening di lunga durata e test di stress termico.
PCB di interfaccia ultrapiatti per assemblaggi di schede sonda, che consentono di eseguire test diretti a livello di wafer di semiconduttori.
Revisione da parte di esperti per strati complessi e accatastamenti di materiali esotici.
Controllo integrato del back-drilling e dell'impedenza TDR per l'integrità del sottopercorso.
Assemblaggio d'élite per connettori di prova BGA a passo fine e ad alto numero di pin.
Convalida dell'intero spettro che assicura una perdita di segnale pari a zero per il test dei circuiti integrati.
TopfastPCB è al servizio dei principali produttori di chip del mondo, fornendo hardware di interfaccia critici in ogni fase del ciclo di test dei semiconduttori.
Il nostro impianto di produzione avanzato è ottimizzato per il numero di strati e le prestazioni di segnale estremi prestazioni di segnale richieste per il collaudo dei semiconduttori, con TDR e verifica termica di alto livello.
Le aziende innovative di progettazione di circuiti integrati, gli IDM globali e i leader delle apparecchiature ATE si affidano a TopfastPCB per i loro test hardware più impegnativi.
Domande comuni sulla produzione di schede di test IC, sul controllo dell'impedenza e sugli standard ATE.
Chiedi a uno specialista →Sfruttiamo la tecnologia di fabbricazione leader del settore per produrre schede con oltre 50 strati. Questa capacità è essenziale per le complesse schede di carico dei semiconduttori e per le schede sonda che richiedono un instradamento parallelo massiccio e piani di alimentazione dedicati.
Forniamo un controllo standard dell'impedenza a ±5%. Per i percorsi ultra-critici ad alta frequenza nell'ATE e nella valutazione dei circuiti integrati ad alta velocità, possiamo ottenere tolleranze di precisione fino a ±2% utilizzando stack-up di materiali verificati e test TDR avanzati.
Sì. Utilizziamo il laser di precisione e la retroforatura meccanica per rimuovere gli stub di placcatura ridondanti. Si tratta di un requisito fondamentale per le schede di carico ATE per garantire segnali puliti e ridurre al minimo la riflessione a frequenze superiori a 10GHz.
Per i chip AI e server ad alta potenza, progettiamo schede con pesanti strati di rame (fino a 12 oz.) e inserti di anima metallica o tecnologia copper-coin per gestire i carichi termici estremi prodotti durante i cicli di burn-in di lunga durata.